Спектроскопический эллипсометр SENresearch 4.0 (SENTECH Instruments)
Спектроскопический эллипсометр SENresearch 4.0 (SENTECH Instruments)

Спектроскопический эллипсометр SENresearch 4.0 (SENTECH Instruments)

ООО "Минатех"
14 сентября 2018
663
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Предназначен для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Измерение нанопленок.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многофункцианальный планштный ридер Synergy 4 (BioTek Instruments) США Аренда, Заказ исследования Москва
Комбинированный спектрофлюориметр FSL 920 (Edinburgh Instruments) Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Кондуктометр PWT Hanna Instruments Германия Аренда, Заказ исследования Оренбург
Анализатор дисперсий частиц Zetasizer Nano (Malvern Instruments Ltd) Великобритания Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Спектральный эллипсометр "Микроскан" РФ Аренда, Заказ исследования Чебоксары
Спектральный эллипсометр САГ-1891 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ РФ Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Спектральный эллипсометр Auto SE (Horiba) Франция Продажа Москва
Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH) Германия Аренда, Заказ исследования Москва