| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначен для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света. Измерение показателя преломления и толщины пленок и абсорбции на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектроники (измерения толщины резистов, окислов и т.д.)
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Maya 2000 Pro (Ocean Optics) | США | Аренда, Заказ исследования | Калининград |
| Сканирующий оже-электронный профилометр МР-2000 (Riber) | Франция | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |
| Рефлектометр на поляризованных нейтронах с вертикальной плоскостью отражения (Канал 12) | РФ | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |
| Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH) | Германия | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments) | Германия | Продажа | Москва |