| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Новосибирская область, Новосибирск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2016 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор позволяет исследовать сверхтонкие пленки и границы раздела, что не под силу другим эллипсометрам, а также анализировать толстые пленки до 30 мкм. Измерение и анализ прозрачных образцов просты, точны и не требуют нанесения царапин на нижнюю поверхность образца. Многофункциональное конфигурирование позволяет выбирать из 6 различных спектральных диапазонов: видимый, УФ, ИК, ВУФ и два расширенных диапазона: от 190 до 2100 нм и от 145 до 2100 нм. Автоматизированные модули и аксессуары дают возможность подобрать конфигурацию под конкретные задачи пользователя. Модульный дизайн прибора делает возможным его использование как в настольной конфигурации, так и в in-situ режиме, например, на напылительной камере.