| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Китай |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначена для точных электрических измерений на микроскопических устройствах и чувствительных материалах. Она находит применение в сфере производства полупроводниковых микросхем, где является ключевым элементом контроля качества. Такие станции позволяют измерять основные физические величины на полупроводниковых пластинах, обеспечивая возможность точной оценки и характеристики их электрических свойств.