Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Краснодар |
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Система лабораторная Cyto vision (West Medica) для автоматизированного многокомпонентного микроскопического анализа препаратов клеток и тканей |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Ростов-на-Дону |
Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Оптическая система плавной смены увеличений для визуализации и анализа трехмерных изображений с последующей фиксацией и документированием |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Петропавловск-Камчатский |
Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Ставрополь |
Платформа учебно-аналитическая для исследования качества, состава и электрофизических свойств графена и его производных |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Якутск |