Публикации

8580

Фильтры

очистить фильтры скрыть фильтр показать фильтры

Сортировка

по релевантности по дате размещения по названию а-я по названию я-а

Показывать по

Сортировать по

Атомно-силовая микроскопия деформаций полимерных материалов. Д. Багров, И. Яминский

О группе компаний НТ-МДТ Спектрум Инструментс NT-MDT SI - About Us

Информационно-вычислительная система экологической безопасности: подходы, методы, модели

Эксплуатационная разведка как инструмент повышения уровня промышленной безопасности добычи угля

Хранение и обработка данных спутниковых мульти- и гиперспектральных снимков на основе формата Apache Parquet

Свойства разностных схем на косых шаблонах для гиперболических уравнений

Криптография в информационном мире

Как «пощупать» атомы? Сколково

Лекции профессора В.А.Быкова в ОЦ "Сириус": сканирующая зондовая микроскопия

Применение сосудов Дьюара

Диагностика солнечных элементов в зондовой нанолаборатории Интегра Спектра. А. В. Анкудинов

Измерительное оборудование|Наноматериалы|Наномеханика|Новые материалы

Исследование многофункциональных нанопокрытий для космических аппаратов методом сканирующей зондовой микроскопии