Нанотехнологический комплекс "УМКА" на основе сканирующего туннельного микроскопа и автоматизированная система для научных исследований

для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является внедрение предлагаемого НТК "Умка" в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии.
Прибор позволяет:
определять топологию поверхности образцов в виде чётких 2D- и 3D-изображений с атомарным разрешением;
определять работу выхода и импеданса - определение примесей в исследуемом материале; измерять вольт-амперные и дифференциальные характеристики материала (определение типа проводимости материала, анализ структур проводящих и магнитных образцов) на атомно-молекулярном уровне;
определять примеси в исследуемом материале;
измерять параметры профиля (шероховатость, размер включений и наночастиц);
измерять все типы дифференциальных спектров: dI/dU, dI/dH, dH/dU, а реализованные алгоритмы обработки данных - определять амплитуду и сдвиг фаз между измеряемыми каналами. Это дает возможность использовать комплекс при изучении коррозии, в том числе и гетерогенных материалов, позволяя четко определять структуру «зёрен» разного состава, исследовать композитные материалы, различать зоны с разным типом проводимости и уровнем легирования в полупроводниках.
осуществлять оценку длительного внешнего воздействия на образцы в режиме реального времени (in situ) (определение коррозионной устойчивости, радиационного воздействия и т.д.).
Кроме того, НТК "Умка" позволяет выполнять работы, требующие определение характеристик материалов и сред на атомно-молекулярном уровне и проводить их анализ (в т.ч. анализ состояния покрытий и поверхностей обработанных деталей; исследование электропроводящих поверхностей, коррозии и т.д.)