Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения
14 сентября 2018
313
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Белгородская область, Белгород |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 300 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSEM 450 FEI Company (страна производитель Чешская Республика) с системами энергодисперсионного анализа, волнодисперсионного анализа и анализа картин дифракции обратно-отраженных электронов EDAX Trident (страна производитель США), комплект вспомогательного оборудования