Спектральный эллипсометр с визуализацией Accurion Nanofilm
14 сентября 2018
369
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 40 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для решения многочисленных задач метрологии тонких пленок и покрытий, таких как: измерение толщин однослойных и многослойных ультратонких пленок и монослоев, индекса преломления с точностью до третьего знака после запятой, коэффициента затухания, отражения, пропускания, измерения шероховатости и картирования поверхности и др. Также метод дает возможность исследования физико-химических процессов, протекающих на поверхности твердого тела: современная техника эллипсометрии позволяет измерять толщину адсорбционных покрытий с точностью до 0,02 долей монослоя.