Спектроскопический эллипсометр PHE-102 (Angstrom Advanced Inc.)

НИЯУ МИФИ
14 сентября 2018
354
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства США
Год производства 2009
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 1 142 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Мощный и универсальный эллипсометр для проведения исследований широкого круга материалов: диэлектрики, полимеры, полупроводники, металлы, многослойные структуры. Позволяет работать в широком диапазоне длин волн (250 - 1100 нм) с высоким спектральным разрешением.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Полуавтоматическая аналитическая зондовая станция SPS-2600 (analytical probe stations) MicroXact Inc. США Аренда, Заказ исследования Москва
Рамановский спектрометр DXR Smart Raman Research (ThermoFisher Scientific Inc.). США Аренда, Заказ исследования Махачкала
Спектральный эллипсометр "Микроскан" РФ Аренда, Заказ исследования Чебоксары
Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments) Германия Продажа Москва
Спектральный эллипсометр САГ-1891 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ РФ Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН) РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Спектральный эллипсометр Auto SE (Horiba) Франция Продажа Москва
Электронно-зондовый микроанализатор РЭМА-102-02 (Сумы) Украина Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH) Германия Аренда, Заказ исследования Москва