Система 3–х мерно-отображающего анализатора New View 5000 (Zygo)

14 сентября 2018
234
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург
Страна производства США
Год производства 2003
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 39 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Визуализация и исследование геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств (анизотропия, показатель преломления, фазовый состав, механическое напряжение) кристаллических и полупроводниковых наноструктур, нанодинамики их изготовления.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система тринокулярного тубуса Olympus Япония Аренда, Заказ исследования Чита
Система лазерной микродиссекции Arcturus XT США Аренда, Заказ исследования Москва
Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus) Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с магнетронными источниками Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с термическими испарителями Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул
Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск