| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Система тринокулярного тубуса Olympus |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Чита |
| Система лазерной микродиссекции Arcturus XT |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Екатеринбург |
| Оптико-электронная система
измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Барнаул |
| Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Новочеркасск |
| Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Иркутск |
| Система цифровой микроскопии на базе оптического микроскопа Olympus BX51M |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Комплект оборудования для флуоресцентного имидждинга Система Cell-R, IX71 инвертированный микроскоп (Olympus,) |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
