| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Курск |
| Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450 |
Нидерланды |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
| Электронный сканирующий микроскоп с энергодисперсионным спектрометром Inca X-Act Evo 40 (Carl Zeiss) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Екатеринбург |
| Электронный растровый микроскоп-микроанализатор ExPress VP (FEI inc.) |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Махачкала |
| Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе:
система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных к |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100 с приставкой для микроанализа Oxford Inca |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Екатеринбург |
| Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 UB (Tescan) |
Чехия |
Аренда, Заказ исследования |
Миасс |
