Система лазерной микродиссекции PALM MicroBeam 4.2 (Carl Zeiss)

14 сентября 2018
263
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Санкт-Петербург
Страна производства Германия
Год производства 2009
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 8 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначена для выделение интересующего элемента (например, живой клетки, хромосомы, макромолекулы определенного вида) из имеющегося биологического материала без его загрязнения и повреждения. Лазерная микросистема позволяет успешно решать эту задачу. Сфокусированный УФ-лазерный луч (длина волны не более 350 нм) длительностью всего в 3 наносекунды не только вырезает нужный микрообъект, не повреждая его, но и катапультирует в улавливающий микроконтейнер, отделяя таким образом от остального материала. Мощность лазерного пучка и фокусировка автоматически регулируются с большой точностью. Этим же лазерным лучом можно предварительно разрушить в исследуемом образце те элементы, которые могут мешать выделению (иссечению и катапультированию) нужного объекта.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система тринокулярного тубуса Olympus Япония Аренда, Заказ исследования Чита
Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus) Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с магнетронными источниками Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с термическими испарителями Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул
Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск
Система цифровой микроскопии на базе оптического микроскопа Olympus BX51M Япония Аренда, Заказ исследования Москва