Спектроскопический эллипсометр PhE-102 (Micro Photonics Inc.)
14 сентября 2018
471
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для измерения показателя преломления, коэффициента экстинкции и толщины тонких пленок на различных подложках. Объекты исследования: объемные образцы, тонкие пленки, многослойные оптические покрытия.