Растровый электронный микроскоп-анализатор JSM-35-CF (Jeol)

14 сентября 2018
462
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Япония
Год производства 2014
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 12 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для микроскопического анализа методом растровой микроскопии
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" РФ Аренда, Заказ исследования Белгород
Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation США Аренда, Заказ исследования Самара
Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000 Франция Аренда, Заказ исследования Российская Федерация
Микроскоп монокулярный "Микромед-С11" РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Микроскоп оптический "Аксиоверт40 МАТ" РФ Аренда, Заказ исследования Волгоград
Учебный сканирующий зондовый микроскоп с дополнительным оборудованием Nanoeducator -5 штук в комплекте США Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп Leica TCS SP5 MP Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Микроскоп стандартный бинокулярный ахроматический РФ Аренда, Заказ исследования Омск