Система управления Elphy Plus (Raith) к электронному микроскопу Zeiss 1540 Elphy Pl
14 сентября 2018
326
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Изготовление топологически сложных наноструктур из различных материалов. |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Электронно-литографическая приставка высокого класса для растрового электронно-лучевого микроскопа, оборудованного термоавтоэмиссионным катодом, либо для ионно-лучевого микроскопа, или рабочей станции FIB-SEM.