Система компьютерной томографии сверхвысокого разрешения UltraXRM-L200 Xradia (ZEISS)
14 сентября 2018
328
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначена для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения, используемой в лабораторных условиях для получения трехмерных изображений образцов микроскопических размеров. Рентгеновская фокусирующая оптика с большой точностью дает разрешение около 50 нм, легко расширяя возможности рентгеновской томографии за пределы возможностей обычных сканеров. Метод фазового контраста Цернике позволяет улучшить изображение, получаемое от края образца или границы раздела поверхностей с маленьким контрастом поглощающей способности.