Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ-757 (ИФП СО РАН)
14 сентября 2018
822
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Татарстан, Казань |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и объемных материалов. Измерение параметров производится посредством анализа состояния поляризации отраженного от поверхности образца поляризованного монохроматического пучка света с последующим математическим расчетом физических параметров.
