Система трехмерной рентгеновской микроскопии UltraXRM-S (SYNCHROTRONS)
14 сентября 2018
333
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначена для трехмерной рентгеновской микроскопии ультравысокого разрешения. Использует в качестве сканирующего рентгеновского микрозонда высоко когерентное рентгеновское излучение, полученное из рабочего пучка синхротрона при помощи ондуляторов и фирменной оптики. Обеспечивает перемещение пучка излучения и образца с точностью до 5 нм и высокой долговременной стабильностью для проведения картирования образца с ультравысоким разрешением. Дополнительные возможности детектирования, например, детектирование прошедших фотонов для визуализации фазового контраста или детектирование дифракции для отображения кристаллографических фаз могут быть легко добавлены в систему для получения дополнительной структурной информации.