Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Томск |
Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Самара |
Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000 |
Франция |
Аренда, Заказ исследования |
Российская Федерация |
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Пермь |
Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
Микроскоп Микромед Мет с видеоокуляром ToupCam 9,0MP (увеличение 40х-400х, револьверная устр-во на 5 объективов, визуальная насадка бинокулярная) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Барнаул |
Комплекс для подготовки образцов для исследования на электронном и зондовом микроскопах |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |