| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначен для проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Длина волны - 632,8 нм. Диапазон измерения толщины пленк: 1 нм до 6000 нм. Применение: Измерение толщины и коэффициента преломления единичных слоев или двухслойных пленок (с известными параметрами подслоя) в производстве или лаборатории. Высокая стабильность и точность при измерении с источником света (HeNe лазер, 632,8 нм.), термостабилизированный компенсатор, управление поляризатором, детектор сверх низких шумов. Высокая точность выравнивания образца (регулировка по высоте и углу наклона) с помощью автоколлиматического телескопа (АСТ).
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Лазерный эллипсометрический комплекс "ЛЭК-9105" | РФ | Аренда, Заказ исследования | Омск |
| Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН) | РФ | Аренда, Заказ исследования | Омск |
| Спектральный эллипсометр САГ-1891 (ИФП СО РАН) | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ | РФ | Аренда, Заказ исследования | Ростов-на-Дону |
| Спектральный эллипсометр "Микроскан" | РФ | Аренда, Заказ исследования | Чебоксары |
| Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH) | Германия | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Спектральный эллипсометр Auto SE (Horiba) | Франция | Продажа | Москва |
| Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments) | Германия | Продажа | Москва |