Система зондово-оптической 3D корреляционной микроскопии, ИБХ РАН
5 июля 2019
366
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2018 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Установка позволяет на одном и том же участке образца проводить исследования материалов различных типов, в том числе биологических, с использованием методик сканирующей зондовой микроскопии, ультрамикротомии и оптической микроскопии.
Установка включает в себя специально разработанные и оптимизированные блоки: система модификации поверхности образца (ультрамикротом), система сканирующей зондовой микроскопии, оптический блок с конфокальным модулем, монохроматор Shamrock 750 (Andor) с CCD-камерой DU971P-BV (Andor Technology), перестраиваемый Ar-лазер, He-Ne лазер Melles Griot 25-LHP-928-230, фотодиодный лазер (532 нм).
Система модификации поверхности образца позволяет делать ультратонкие срезы образца в масштабах до 20 нм. За счет использования специальных алмазных ножей для ультрамикротома осуществляется возможность срезов образцов различных материалов (биологические структуры, полимерные материалы, нанокомпозитные материалы, содержащие наночастицы и др.).
Система сканирующей зондовой микроскопии позволяет проводить исследование образца зондовыми методиками, такими как атомно-силовая микроскопия, микроскопия поверхностного потенциала и др. Данная система оборудована устройством точного позиционирования, за счет чего способна возвращаться в одну и ту же область сканирования с погрешностью ±0.6 мкм.
Описанные блоки в комбинации с оптическим блоком, системой облучения и монохроматором с CCD дают уникальную возможность исследования одного и того же участка образца одновременно множеством методов. Кроме того, специальное программное обеспечение обрабатывает полученные массивы данных и позволяет получить 3D реконструкцию анализируемого материала.
Установка включает в себя специально разработанные и оптимизированные блоки: система модификации поверхности образца (ультрамикротом), система сканирующей зондовой микроскопии, оптический блок с конфокальным модулем, монохроматор Shamrock 750 (Andor) с CCD-камерой DU971P-BV (Andor Technology), перестраиваемый Ar-лазер, He-Ne лазер Melles Griot 25-LHP-928-230, фотодиодный лазер (532 нм).
Система модификации поверхности образца позволяет делать ультратонкие срезы образца в масштабах до 20 нм. За счет использования специальных алмазных ножей для ультрамикротома осуществляется возможность срезов образцов различных материалов (биологические структуры, полимерные материалы, нанокомпозитные материалы, содержащие наночастицы и др.).
Система сканирующей зондовой микроскопии позволяет проводить исследование образца зондовыми методиками, такими как атомно-силовая микроскопия, микроскопия поверхностного потенциала и др. Данная система оборудована устройством точного позиционирования, за счет чего способна возвращаться в одну и ту же область сканирования с погрешностью ±0.6 мкм.
Описанные блоки в комбинации с оптическим блоком, системой облучения и монохроматором с CCD дают уникальную возможность исследования одного и того же участка образца одновременно множеством методов. Кроме того, специальное программное обеспечение обрабатывает полученные массивы данных и позволяет получить 3D реконструкцию анализируемого материала.