Рентгеновский микротомограф HeliScan MicroCT, FEI

26 июля 2019
546
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства США
Год производства 2016
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Да
Наличие ГОСТированной методики Да

Описание

Предназначен для исследования трёхмерной структуры образцов в субмикронном диапазоне. Позволяет получать информацию о связи свойств образцов на микро- и макроуровне путём анализа мульти масштабных трёхмерных изображений. Рентгеновский микроскоп HeliScan занимает важное место в начале цепочки мульти масштабной 3D микроскопии, продолжающейся системами высокого разрешения, такими как FEI Helios, и системами сверхвысокого разрешения, такими как FEI Titan. Совокупность этих методов позволяет наилучшим образом изучить свойства исследуемых образцов.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Настольный модуль электронного сканирования Phenom (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Лаборатория электроной микроскопии FEI Phenom Нидерланды Аренда, Заказ исследования Москва
Электронный растровый микроскоп-микроанализатор ExPress VP (FEI inc.) США Аренда, Заказ исследования Махачкала
Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Ионный микроскоп V400ACE FIB (FEI) США Продажа Москва
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск
Ионный микроскоп Vion Plasma FIB (FEI) США Продажа Москва
Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 Spirit BioTWIN (FEI) США Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Микроскоп сканирующий ионный Strata 201 SIMSmapIIIxP (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва