Микроскоп-анализатор размера и формы частиц BeVision S1, Bettersizer

18 января 2020
566
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Татарстан, Казань
Страна производства Китай
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.

Описание

Прибор использует последние достижения в технологии обработки и распознавания изображений в сочетании с традиционным методом микроскопии, обеспечивая точное и интуитивно простое определение распределения частиц по размерам. Прибор широко используется при наблюдении и анализе формы частиц, таких как абразивные материалы, сверхтвердые материалы, микросферы и металлические абразивные порошки. Определяемые параметры: распределение частиц по размеру, максимальный размер частиц, соотношение сторон, округлость, соотношение радиус-толщина.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" РФ Аренда, Заказ исследования Белгород
Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation США Аренда, Заказ исследования Самара
Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000 Франция Аренда, Заказ исследования Российская Федерация
Микроскоп монокулярный "Микромед-С11" РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Микроскоп оптический "Аксиоверт40 МАТ" РФ Аренда, Заказ исследования Волгоград
Учебный сканирующий зондовый микроскоп с дополнительным оборудованием Nanoeducator -5 штук в комплекте США Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Микроскоп сканирующий зондовый JSPM-5400 (Jeol) Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва