Система энергодисперсионного анализа X-flash (Bruker)

14 сентября 2018
409
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Воронежская область, Воронеж
Страна производства Германия
Год производства 2010
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 18 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Оборудование для микроскопических исследований
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos) Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Система конфокальной рамановской отображающей микроскопии и атомно-силовой микроскопии Alpha300AR РФ Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов на базе сканирующего зондового микроскопа SolverNEXT РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь
Двухлучевая система с высоким разрешением для исследования и подготовки образцов NVision 40 (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450 Нидерланды Аренда, Заказ исследования Белгород