Эталонная 3D лазерная интерферометрическая система измерений наноперемещений (НИЦПВ)
14 сентября 2018
407
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | РФ |
Год производства | 2012 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
Стоимость предоставления услуг | от 2 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Эталонная система на основе атомно-силового микроскопа оригинальной конструкции и лазерных интерферометрических измерителей наноперемещений предназначена для измерения нано-рельефа поверхности и линейных перемещений по 3-м координатам в микроэлектронике,нанотехнологии и микромеханике,аттестации мер и стандартных образцов для калибровки растровых электронных и сканирующих зондовых микроскопов.