Рентгено-флуоресцентный анализатор покрытий X-Strata 980 (OXFORD)

14 сентября 2018
275
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Великобритания
Год производства 2014
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 30 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения толщины или/и определения химического состава покрытий и тонких пленок, содержащих элементы от S до U. Мощная рентгеновская трубка, сверхчувствительный точечный детектор позволяют проводить измерения именно в заданных точках объекта контроля.
Возможно обнаружить вредные примеси на уровне единиц ppm. Прекрасные результаты при измерении толщины многослойных покрытий. Измерения по 5 слоям (4 слоя покрятия основание). Высокая точность измерения достигается благодаря оптимальному сочетанию эмпирических калибровок и метода фундаментальных параметров при расчете концентраций. Сменные коллиматоры.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" РФ Аренда, Заказ исследования Белгород
Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation США Аренда, Заказ исследования Самара
Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000 Франция Аренда, Заказ исследования Российская Федерация
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES Великобритания Аренда, Заказ исследования Краснодар
Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments) Великобритания Аренда, Заказ исследования Курск
Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100 с приставкой для микроанализа Oxford Inca Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Микроскоп VEGA II SBH с высоким и пониженным вакуумом в камере и с системой микроанализа Oxford INCA Energy 250 ADD Чехия Аренда, Заказ исследования Самара
Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) Великобритания Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Микроскоп тринокулярный флуоресцентный MC-3-TFS (Micros) Австрия Аренда, Заказ исследования Москва