Система флуоресцентного анализа изображения "Axiovert 200М Cell Observer" (Carl Zeiss)

14 сентября 2018
433
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 10 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Позволяет применять все доступные методы контрастирования и оснащается на заказ осветителями различного типа и мощности. Наличие фото/видео-выхода обеспечивает возможность документирования изображения с помощью цифровых камер и дальнейшую обработку изображения с помощью программ анализа изображений.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos) Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Система конфокальной рамановской отображающей микроскопии и атомно-силовой микроскопии Alpha300AR РФ Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов на базе сканирующего зондового микроскопа SolverNEXT РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь
Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450 Нидерланды Аренда, Заказ исследования Белгород
Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул