Система микроскопии плоскостного освещения Lightsheet 7, Carl Zeiss

26 июля 2022
422
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Прибор позволяет визуализировать живые образцы в течение продолжительного времени, вплоть до нескольких дней и с меньшей фототоксичностью, чем когда-либо прежде. С ее помощью можно регистрировать в субклеточном разрешении очень большие оптически просветленные образцы целиком. Прибор можно оснастить специализированной оптикой, климатическими камерами и держателями для образцов, чтобы подстроиться под показатель преломления выбранного метода просветления и визуализировать крупные объекты, даже мозг мыши целиком. Умные программные инструменты помогут настроить параметры визуализации, такие как положения освещающей плоскости и образца, правильные настройки увеличения, мозаичного захвата изображения, а также параметры обработки данных. Все эти новшества дополняют надежную комбинацию цилиндрической линзовой оптики с лазерным сканированием для генерации тонкой освещающей плоскости. Использование запатентованной технологии Pivot Scan позволяет получать изображения оптических срезов наивысшего качества и без артефактов.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система тринокулярного тубуса Olympus Япония Аренда, Заказ исследования Чита
Система лазерной микродиссекции Arcturus XT США Аренда, Заказ исследования Москва
Система контроля качества фотолитографии BX-51 (Olympus) Япония Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с магнетронными источниками Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Сверхвысоковакуумная напылительная система «Омикрон» с термическими испарителями Omicron Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул
Система рентгеновского микроанализа EDAX Genesis 2000 XMS 30 (FEI) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск