Система микроскопии плоскостного освещения Lightsheet 7, Carl Zeiss

26 июля 2022
210
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Продажа
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Прибор позволяет визуализировать живые образцы в течение продолжительного времени, вплоть до нескольких дней и с меньшей фототоксичностью, чем когда-либо прежде. С ее помощью можно регистрировать в субклеточном разрешении очень большие оптически просветленные образцы целиком. Прибор можно оснастить специализированной оптикой, климатическими камерами и держателями для образцов, чтобы подстроиться под показатель преломления выбранного метода просветления и визуализировать крупные объекты, даже мозг мыши целиком. Умные программные инструменты помогут настроить параметры визуализации, такие как положения освещающей плоскости и образца, правильные настройки увеличения, мозаичного захвата изображения, а также параметры обработки данных. Все эти новшества дополняют надежную комбинацию цилиндрической линзовой оптики с лазерным сканированием для генерации тонкой освещающей плоскости. Использование запатентованной технологии Pivot Scan позволяет получать изображения оптических срезов наивысшего качества и без артефактов.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе: система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных к Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos) Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система лабораторная Cyto vision (West Medica) для автоматизированного многокомпонентного микроскопического анализа препаратов клеток и тканей Германия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск
Оптическая система плавной смены увеличений для визуализации и анализа трехмерных изображений с последующей фиксацией и документированием Германия Аренда, Заказ исследования Калининград
Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов на базе сканирующего зондового микроскопа SolverNEXT РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург