КР-спектрометр с микроскопом SENTERRA II, Bruker Optik

29 мая 2023
135
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Да
Наличие ГОСТированной методики Да

Описание

Прибор отличается высокой чувствительностью в сочетании с высокими спектральными и визуализационными характеристиками и может использоваться в качестве мощной платформы для проведения сложных исследований. Благодаря высокой степени автоматизации, компактным размерам и эффективному рабочему процессу также является идеальным инструментом для решения реальных задач в лаборатории контроля качества.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе: система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных к Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Лазерный комплекс Multi Mode 8 (Bruker) для компарирования размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения Innova (Bruker) Германия Аренда, Заказ исследования Казань
Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension ICON Германия Аренда, Заказ исследования Пермь
Сканирующий ИК-микроскоп "Hyperion 1000" (Bruker) Германия Аренда, Заказ исследования Тверь
Система энергодисперсионного анализа X-flash (Bruker) Германия Аренда, Заказ исследования Воронеж
Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode8 (Bruker) Германия Аренда, Заказ исследования Архангельск
Микроскоп VEGA II SBH с высоким и пониженным вакуумом в камере и с системой микроанализа Oxford INCA Energy 250 ADD Чехия Аренда, Заказ исследования Самара
Система материалографических исследований с высоким разрешением и локальным элементным анализом Vega II (Tescan) Чехия Аренда, Заказ исследования Москва
Сканирующий зондовый микроскоп "НАНОЭДЮКАТОР II" NT MDT (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Киров