Купить Система визуального контроля BGA-001, Inspectis в г.Рязань

Классификация оборудования	Приборы для микроскопических исследований
Страна, регион, город	Российская Федерация, Рязанская область, Рязань
Страна производства	Швеция
Предоставляемое количество	1
Условия использования	Продажа
Стоимостная группа	от 1 до 10 млн. руб.

Описание

Предназначена для быстрой инспекции, измерения и документирования скрытых паяных соединений BGA, µBGA, компонентов FipChip, CSP, CGA и SMD. Инспекционная установка оснащена самой миниатюрной оптической головкой с оптикой высокой точности, встроенной подсветкой и 5,0-мегапиксельной камерой, мощной фоновой подсветкой, установленной на компактном жестком штативе с плавающим столиком XY. Система создает изображения с высоким разрешением из областей с чрезвычайно малым зазором между корпусами BGA, µBGA, CSP, CGA и FlipChip с зазором до платы всего 40 микрон.

Найти аналог

Вам может быть интересно

Наименование	Страна производства	Условия использования	Расположение
Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе: система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных к	Великобритания	Аренда, Заказ исследования	Москва
Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой	Великобритания	Аренда, Заказ исследования	Калининград
Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS	США	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск
Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos)	Германия	Аренда, Заказ исследования	Москва
Система конфокальной рамановской отображающей микроскопии и атомно-силовой микроскопии Alpha300AR	РФ	Аренда, Заказ исследования	Екатеринбург
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ	РФ	Аренда, Заказ исследования	Москва
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ)	РФ	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург
Система лабораторная Cyto vision (West Medica) для автоматизированного многокомпонентного микроскопического анализа препаратов клеток и тканей	Германия	Аренда, Заказ исследования	Ростов-на-Дону
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company)	Нидерланды	Аренда, Заказ исследования	Иркутск
Оптическая система плавной смены увеличений для визуализации и анализа трехмерных изображений с последующей фиксацией и документированием	Германия	Аренда, Заказ исследования	Калининград